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您查询的相关hs编码  1 条,您的查询关键词  厚度测量
HS编码 品名 实例汇总 申报要素·退税 编码对比
90221990.20 X射线晶圆制造厚度测量设备
(X射线晶圆制造厚度测量设备)
[X-ray wafer thickness measuring equipment]
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申报实例查询结果
HS编码 商品名称 商品规格
90029090.90 镜片 用于半导体薄膜厚度测量系统|已装配|NANO|Y600
90029090.90 取景器 用于半导体薄膜厚度测量系统|已装配|NAN|Y8332
90118000.90 金相显微镜 观察线路板的切片,由于其层数和厚度测量|凸透镜成像原理|奥
90158000.90 厚度测量 用于板类材料的厚度测量|测量功能|TECLOCK牌|SMD-565J-L
90173000.00 螺旋测微仪 工业用|测量长度,厚度等|手用|MITUTOYO|M310-25
90173000.00 数显测厚规 测量外径,厚度用|带刻度或电子数显功能|手用|SANH
90173000.00 测厚规 测量|测量厚度|是手用|INSIZE|1145
90173000.00 量规 测量精度厚度用|手动测量厚度功能|手用|PANTEC牌|无型号|规
90173000.00 厚度测量 测量物品厚度|能准确不同规格大小的物品的厚度|用手|品
90173000.00 游标卡尺 用于测量工件厚度|测量|手用|无品牌|无型号
90173000.00 量具(塞尺) 测量|测量加工件厚度|手用|无品牌|无型号
90178000.00 厚度测量治具 生产工具 测量厚度用|测量厚度用|Panasonic牌
90178000.00 厚度测量 测量产品的厚度|LCD组件焊锡厚度测量|日本三丰|547-401
90185000.00 便携式超声诊断设备 A超部分:测量眼球前房深度,晶体厚度,玻璃体及眼轴长度
90221990.90 测厚仪 用于测量涂镀层的厚度|将样品通过X荧光射线进行激发,样
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