9031410000 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
| 商品编码 | 90314100.00 | ||||
| 商品名称 | 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 | ||||
| 商品描述 | 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具第90章其他税目未列名的 | ||||
| 英文名称 | Other optical instruments and appliances For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices | ||||
申报实例汇总
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
| 90314100.00 | 变焦光学系统 | 实验室用|集成电路,半导体|无牌|无型号|无测试结果显 |
| 90314100.00 | 半导体膜厚测量仪（旧） | 在制造半导体器件工艺中，用于测量晶片表面镀膜的厚度|测 |
| 90314100.00 | 半导体检测设备 | 用于半导体晶圆制造检测|检测|KLA-TENCOR|K |
| 90314100.00 | 硅晶片检测仪 | 用光学原理检测硅晶片是否有隐裂|用于检测硅晶片质 |
| 90314100.00 | 制造半导体器件的检测仪和器具 | 对氮化镓、硅等半导体材料结构进行检测分析|用光学方法对氮化 |
| 90314100.00 | 静电卡盘 | 芯片在反应室中通过在静电卡盘上依靠静电固定，进行工艺处 |
| 90314100.00 | 多晶硅电池片分色检验仪 | 用光学原理检验多晶硅电池片|用于检验多晶硅电池片外 |
| 90314100.00 | 半导体颗粒测试仪（旧） | 用来检测半导体晶片表面的颗粒|光路发生部分产生光束，射 |
| 90314100.00 | 硅片颗粒扫描仪(旧) | 用于检测芯片表面颗粒数量和颗粒直径|测芯片表面颗粒直径和颗 |
| 90314100.00 | DVD光学头参数测量调整仪/PULSTE | (O-PAS700S/电压100V) |
| 90314100.00 | 静电卡盘 | 制造半导体芯片过程中，芯片在反应室中通过静电卡盘上依靠 |
| 90314100.00 | 全自动晶粒挑拣机 | 使用设备,根据程序指令及自动视觉影像辨识,将符合要求的 |
| 90314100.00 | 半导体晶片光学检测仪(旧) | 检测半导体晶片表面缺陷;KLATencor;KLA2 |
| 90314100.00 | 三维管脚检测仪(旧) | 检测用;品牌ICOS;检测;型号CI-T1XO |
| 90314100.00 | 外观检查机/用于检查线路板成品 | V22R2 |
| 90314100.00 | 检测仪 | TESTER |
| 90314100.00 | 水平仪 | 20-107578-00 |
| 90314100.00 | DVD光学头评价机/PULSTEC | 光学头评价/O-PAS710A交流100V |
| 90314100.00 | 半导体器件测试机, | DC2600 |
| 90314100.00 | 晶格图像检测机 | 型号:LEDA-PNP M6600;检测对象:LED芯片,无测试结果;显 |
上一条申报实例：90312000.90-其他试验台
下一条申报实例：90314910.00-轮廓投影仪